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产品1

差示扫描量热仪TSI2

型(xing)号:TSI2

适用产品:石墨片、树(shu)脂、玻璃、陶(tao)瓷、金(jin)属等

测量对象:样品的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性

其它(ta)配件 :  温(wen)度(du)调制加热(re)器、控制解析软(ruan)件、PC

输入电源(yuan):AC100-240[V], 10-5[A], 50/60[Hz]

外形尺寸(W × D × H mm): W552 × D602 × H657[mm]

本体重量( kg): 76.5[kg]



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产品应用

差示扫描量热仪TSI2可(ke)以对树脂(zhi)、玻璃、陶瓷、金属(shu)等的(de)缺陷(xian)、不均匀性(xing)、红外线(xian)放射亮度、简易(yi)温度、热特性(xing)等进行测量分析;


差示(shi)扫描量热(re)仪TSI2可以(yi)通过热(re)将空隙、裂纹(wen)等产品(pin)或材料的缺隙可视化。


差示扫描量(liang)热仪(yi)TSI2优势:

1. 具(ju)备激光加热功(gong)能;

2. 宏观摄影光学(xue)系(xi)(分辨(bian)率约20μm);

3. 高性能红外照相(xiang)机(7.5μm~13.5μm);

4. 独立的(de)减噪技术;

5. 操作简单,打开盖子将样品(pin)放置到指定(ding)位(wei)置就可以进行测量;


 主要(yao)规格


TSI-2

 基(ji)本性能

 测量对象

  样品的缺陷、不(bu)均(jun)匀性、红外线放射亮度(du)、简易温度(du)、热特(te)性

 输出数据

  频(pin)率、距(ju)离(li)、振(zhen)幅、位(wei)相、亮度、图像数据

 解(jie)析模式

  点・范围解析、位相(xiang)解析

 其它(ta)配件

  温(wen)度调制(zhi)加热器、控制(zhi)解析软件、PC

 测(ce)量环境

 温(wen)度(du)

  RT∼250[℃]

 测量频率

  0.1∼10[Hz]

 红外(wai)照(zhao)相机

 元件数量

  336×256

 元件的种类

  VOx Microbolometer

 像素

  17[μm]

 观察波(bo)长范围

  7.5∼13.5[μm]

 帧(zhen)延(yan)迟

  30[Hz]

 分辨率

  About 30[μm]

 半导体激光

(连续振荡)

 波长(zhang)

  808[nm]

 最大输出功(gong)率

  5[W]

 正弦波调制

  0.1∼30[Hz]

 平台可动(dong)范(fan)围

 水(shui)平(XY轴) 方向

  ±15[mm]

 垂直(Z轴) 方向

  +50[mm]

 电源

  AC100-240[V], 10-5[A], 50/60[Hz]

 使用环境

 温度

  20~30(℃)

 湿度

  20~80(%)

 保管环(huan)境

 温度

  0~50(℃)

 湿度

  20~80(%)

 设备本体

 外形尺寸

  W552 × D602 × H657[mm]

 重量(liang)

  76.5[kg]

 激光安(an)全标准

  CLASS1, IEC/EN 60825-1:2007




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